gx542413760 发表于 2012-7-27 14:10:16

求教EMC暗室的校验方法是哪几种？

VSWR 还有其他吗？ 原理是啥啊？

player5555 发表于 2012-7-27 14:29:12

还有NSA（场地归一化衰减），还有FU（场地均匀性），标准里有说的，分别为CISPR16-1-4和IEC61000-4-3，对应国标有GB6113.104和GB17626.3

gx542413760 发表于 2012-7-27 14:37:37

感谢！

rogeryangliebe 发表于 2012-7-27 20:14:23

SE，屏蔽性能，测试暗室对内外信号的隔离，这个牵涉屏蔽体，波导窗，屏蔽门以及墙面开口板，其中最关键的是屏蔽门以及屏蔽体的工艺。

NSA，归一化场地衰减，测试的数据同理论值之间的差距，主要是模拟开阔场的性能指标，确保暗室和开阔场之间的相关性，测试的数值有可比性。

FU，场均一化指标，用于做抗扰度的，743尺寸的预测试都能够满足，一般问题不大，如果场强要求很大的情况，需要考虑吸收材料的抗扰度特性，另外，这个搬来搬去的，多考虑吸收材料的磨损情况。

Svswr，场地驻波比，这个标准主要考虑1G以上的暗室性能指标，不过这个标准主要是欧洲提出来的，美国的专家对于这个标准一直持有怀疑的态度，觉得该指标不能完全恒量暗室的性能。但是这个指标目前在中国被大量的运用。同时，地面的吸收材料也要考虑搬运的磨损问题。
另一个需要注意的，标准规定静区底部距离地面吸收材料尖端最大为30cm，如果吸收材料大于300mm，则暗室静区底部会同暗室的反射地面不在一个平面。现在有部分厂家吹嘘Svswr性能指标好，但是地面采用吸收材料大于300mm，抬高了静区的底部。

桃花岛主 发表于 2012-7-27 22:44:38

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    顶老杨！

gx542413760 发表于 2012-7-28 11:21:19

真是热心人啊，好人一身平安

gx542413760 发表于 2012-7-28 11:27:57

回复 4# rogeryangliebe


    请问何为静区 ？
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