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关于IGBT的EMC问题

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southqiong 发表于 2013-12-26 16:01:11 | 显示全部楼层
那这个电容应该并在什么位置呢?
sarenbarci 发表于 2014-1-7 13:41:27 | 显示全部楼层
这个电容可以放在:1. Y电容,电源输入口;
                           2. 正负母线对地的高压电容(这个对辐射效果甚好)。但是要选取合适的Y电容,一般是                       
                               Y1。
mic29 发表于 2014-1-28 09:18:55 | 显示全部楼层
pinkwon 发表于 2013-12-24 17:30
请问EMS项目中比如ESD和EFT的脉冲波形分正负,其目的是否是以正向以及反向的回流路径来干扰敏感设备,或 ...

ESD的電壓高低直接對應可移動電子數量的多寡,原子中也只有電子可以移動。

因為移動的是帶負電壓的電子,所以負電壓測試是模擬電子由靜電槍移動到EUT所產生對EUT的影響
反之,正電壓測試是模擬電子由EUT移動到靜電槍所產生對EUT的影響


EFT的正負壓測試,交給論壇其他高手解釋
stevenkay 发表于 2014-1-28 19:53:58 | 显示全部楼层
walterP 发表于 2013-12-17 18:29
di/dt反应的是电流的变化速率,在时域波形上表现就是斜率,对于时域上i的曲线,如果转化为频域,di/dt越大 ...


补充一下,决定辐射频谱不仅是Vce一阶斜率dv/dt,还有二阶d(dv/dt)/dt,即上升时间变化率。
在波特图上有三个拐点分别对应-20db/dec; -40dB/dec和-60db/dec,
fc1=fs (gate drive switching freq)
fc2=1/pi/tr
fc3=1/pi/tr'         (tr'即(dv/dt)曲线的上升时间)

只要你能合理的设计驱动,令Vge在上升拐点更加平滑,那么tr'就可以增加到接近0.5tr,把-60db/dec频域拐点降低,从而减小高频辐射。
更重要的是,如果增加tr',可以用更小的tr取得更低的辐射,同时也降低了开关损耗。这本来是矛盾的,因为通常的设计无法控制tr',所以貌似开关越快
辐射越高。但是对于f>fc1频段,如果能令fc2>f,则有可能进一步降低辐射。
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